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大豆地上部和地下部的表型研究
日期:2019-06-14 20:30:48

表型是指在特定條件下(如各類環(huán)境和生長(zhǎng)階段等)所表現(xiàn)出的可觀察的形態(tài)特征(植物形狀、結(jié)構(gòu)、大小、顏色等生物體的外在性狀),由基因型和環(huán)境共同決定的。表型組是指某一生物的全部性狀特征,不僅僅局限于農(nóng)藝性狀,還應(yīng)更加關(guān)注植株所表現(xiàn)出來(lái)的生理狀態(tài)。植物表型組學(xué)是研究植物的生長(zhǎng)、表現(xiàn)和組成的科學(xué),它的研究可以從小至核苷酸序列細(xì)胞,大至組織、器官種屬群體的表型來(lái)研究分析,并且可以進(jìn)一步整合到基因組學(xué)研究中;而從系統(tǒng)生物學(xué)角度來(lái)看,從基因組到轉(zhuǎn)錄組、蛋白質(zhì)組、代謝組以及表型組,表型組是各種組的表現(xiàn)形式。因此,植物表型組學(xué)的研究將是涉及植物各個(gè)方面的研究領(lǐng)域。表型組學(xué)也是突破未來(lái)作物學(xué)研究和應(yīng)用的關(guān)鍵研究領(lǐng)域, 通過(guò)表型分析來(lái)描述關(guān)鍵性狀可以為育種、栽培和農(nóng)業(yè)實(shí)踐提供基于大數(shù)據(jù)的決策支持。隨著高通量測(cè)序技術(shù)和植物功能基因組學(xué)快速發(fā)展,傳統(tǒng)的作物表型檢測(cè)手段已成為植物基礎(chǔ)生物學(xué)研究和遺存育種研究的主要限制因素。高通量表型組學(xué)的興起改變了傳統(tǒng)的作物表型檢測(cè)方式,與高通量測(cè)序技術(shù)一起對(duì)現(xiàn)代育種方式產(chǎn)生深刻的影響。


大豆是人們?nèi)粘I钪袛z取脂肪和蛋白質(zhì)的重要來(lái)源,國(guó)內(nèi)學(xué)者對(duì)大豆表型的研究,主要集中于大豆株高、莖粗、主莖節(jié)數(shù)、節(jié)間長(zhǎng)度、有效分枝始節(jié)、主莖分枝數(shù)、結(jié)莢高度、莢長(zhǎng)、莢寬、莢色、籽粒色和單株莢數(shù)等性狀。本文對(duì)大豆地上部分的表型研究,主要使用上海乾菲諾平臺(tái)的Scanalyzer 3D和Scanalyzer PL設(shè)備;地下部分表型的研究,主要使用上海乾菲諾平臺(tái)的X-射線根系掃描成像分析系統(tǒng)(RootViz FS)設(shè)備。


Scanalyzer 3D和Scanalyzer PL對(duì)大豆地上部分表型分析


圖1190614.jpg

圖1大豆某一時(shí)期3D可見(jiàn)光鏡頭下側(cè)面0°、90°和頂部分析圖

圖2190614.jpg

圖2 大豆某一時(shí)期不同植株冠幅、外接多邊形和最小外接矩形面積變化圖

圖3190614.jpg

圖3 大豆某一時(shí)期不同植株冠層緊密度和偏心率變化圖

圖4190614.jpg

圖4 大豆某一時(shí)期不同植株冠幅寬度、最小外接圓直徑和株高變化圖

圖51906141.jpg

圖51906142.jpg

圖5  PL對(duì)四個(gè)不同進(jìn)化類型大豆種子成像分析圖

表1  PL對(duì)四個(gè)不同進(jìn)化類型大豆種子成像分析數(shù)據(jù)

樣品編號(hào)

籽粒數(shù)

籽粒長(zhǎng)/mm

偏心率

圓度

R

G

B

野生品種

41

3.769

0.090

13.820

54

46

39

栽培品種

17

7.362

0.031

15.895

233

167

83

半栽培品種

25

5.523

0.085

14.892

91

63

41

半野生品種

30

6.084

0.057

16.111

147

117

65

? Scanalyzer 3D和Scanalyzer PL可獲取的大豆地上部分表型參數(shù):

? 可批量獲取的參數(shù):冠層面積、冠層多邊形面積、冠層最小外接矩形面積、冠幅寬度、冠層外接多邊形周長(zhǎng)、冠層最小外接圓直徑、株高、冠層緊密度、冠層偏心率、莢長(zhǎng)、莢寬、莢色(RGB值)、籽粒色(RGB值)和分析植株水分相對(duì)含量等,并可以提供成像原圖和分析圖;

? 可單張分析獲得參數(shù):莖粗和結(jié)莢高度。


RootViz FS對(duì)大豆地下部分表型分析

圖6190114.gif

圖6 四種不同類型大豆在結(jié)夾期X-射線根系掃描成像圖

圖7190614.jpg

圖7 四種不同類型大豆品種在在結(jié)夾期根長(zhǎng)和根投影面積變化圖

圖8190614.jpg

圖8 大豆在30cm深處截點(diǎn)數(shù)、直徑和橫截面積變化圖

圖9190614.jpg

圖9 半栽培大豆5種不同尺寸根系變化圖

圖10190614.jpg

圖10 玉米和大豆種植現(xiàn)場(chǎng)

? X-射線根系掃描成像分析系統(tǒng)可批量獲取的根系參數(shù):

? 根據(jù)客戶需要,可提供根系在基質(zhì)里原位生長(zhǎng)的根系結(jié)構(gòu)合成圖、分析圖和分析數(shù)據(jù);

? 可分析得到的參數(shù)有根總長(zhǎng)、根投影面積、不同基質(zhì)深度截點(diǎn)數(shù)、截點(diǎn)面積和截點(diǎn)直徑等參數(shù);

? 將原圖按分辨率降低程度進(jìn)行切割,可獲取5種不同尺寸根系根總長(zhǎng)、根投影面積、不同基質(zhì)深度截點(diǎn)數(shù)、截點(diǎn)面積和截點(diǎn)直徑等參數(shù)。